Современная школа помимо организации учебного процесса должна обеспечивать безопасность учащихся в школе, строго контролировать дисциплину и оперативно информировать родителей о возникающих проблемах. Система PERCo-S-20 "Школа" поможет в решении этих задач.

Система диспетчерезации инженерных систем предназначена для контроля инженерного оборудования, разнесенного территориально, а также расположенного в труднодоступных местах

Датчик линейных перемещений ASTRO A531 определяет изменение расстояния между двумя анкерными точками, может использоваться для определения смещения в почвах.

Датчик угла наклона ASTRO A541 измеряет углы наклона при изменении положения объекта, оснащен датчиками температурной компенсации и системой самокалибровки.

Датчик вибрации (акселерометр) ASTRO A551измеряет вибрации объектов (строительных конструкций, узлов агрегатов в энергетике), а так же применяется в лабораторных и стендовых испытаниях.

Комплекс измерительный FT-17M предназначен для проведения функционального контроля электронных модулей различного назначения и вариантов исполнения.

Тестер проводного монтажа W434R предназначен для обнаружения и локализации дефектов проводного монтажа, жгутов и кабелей, а также для функционального контроля компонентов. Высокоскоростной измеритель позволяет в автоматическом режиме проверять тестируемые изделия на соответствие таблице соединений, измерять качество соединений, проверять качество изоляции и компоненты.

Тестовая система Pilot V8 - это новейшая разработка в области тестовых технологий с подвижными пробниками. Это решение для тех, кому необходима максимальная производительность, высокая скорость тестирования, гибкость при создании тестовых программ (опытные образцы или серийное производство), а также локализация дефектов при ремонте изделий любой сложности.

Стенд измерительный FT-17DT-256 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц

Стенд измерительный FT-17HF-768 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц.