Высочайший уровень автоматизация в СЗМ индустрии
Беспрецедентно низкий уровень шумов
Быстрый сканер, оснащенный низкошумящими датчиками
Атомное разрешение
60+ СЗМ методов в базовой конфигурации
Непрерывное увеличение от миллиметров к ангстремам
Интеграция инновационной АСМ методикой HybriD Mode™

Максимальная автоматизация
14 высокоточных шаговых двигателей управляют всеми подвижными частями микроскопа, а интеллектуальное программное обеспечение стирает грань между оптическим и СЗМ изображением. НЕКСТ обеспечивает непрерывное увеличение от миллиметровых панорамных оптических изображений до атомарного разрешения, а такие промежуточные операции, как наведение лазера на кантилевер, позиционирование образца, «мягкий» подвод и конфигурация продвинутых СЗМ методик происходит автоматически.

Возможности автоматизации:
Распознавание кантилевера и автоматическая настройка системы регистрации изгибов кантилевера как на воздухе, так и в жидкости;
Автоматическая фокусировка оптического микроскопа;
Построение 7×7 мм панорамного оптического изображение с 2 мкм разрешением;
Позиционирование образца по целеуказанию на оптическом изображении;
Патентованный алгоритм «мягкого» подвода зонда и автоматическая настройка рабочих параметров сканирования;
Автоматическое конфигурирование ПО для всех продвинутых СЗМ методик;
Эргономичный 3D-манипулятор для перемещений образца и оптического микроскопа.
Процедура MultiScan™, позволяющая автоматически осуществлять последовательное сканирование областей до 5×5 мм с возможностью сшивки перекрывающихся сканов;
Возможность проведения сотен измерений в день с минимальным участием оператора;
Методики измерения
Новый СЗМ контроллер PX Ultra и программное обеспечение последнего поколения предоставляют широчайшие возможности как начинающим, так и опытным пользователям. НЕКСТ оснащен более чем 60 методиками в базовой конфигурации.

Новый PX Ultra контроллер
Благодаря использованию новейшей элементной базы, PX Ultra контроллер обладает высокой производительностью и гибкостью в конфигурировании. Низкошумящие высоковольтные усилители (шум <1 мВ/600 В) вместе с рекордно минимальными шумами системы слежения (~25 фм/√Гц) позволяют получать результат высочайшего качества, а возможность использования одновременно до 5 синхронных детекторов открывает новые возможности в исследование электрофизических свойств материалов.

Простота использования и гибкое ПО
Программное обеспечение Nova PX оснащено системой автоматической установки параметров и интеллектуальными алгоритмами для быстрой конфигурации работы НЕКСТ во всех продвинутых методиках. Наряду с быстрой конфигурацией, Nova PX даёт исследователям неограниченную гибкость в настройках.

Измерение рельефа
Рельеф поверхности измеряется с помощью контактной, амплитудно-модуляционной АСМ, а также инновационной методики HybriD Mode™, как в на воздухе, так и в жидкости.

Анализ кривых
Анализ кривых различной природы (зависимость силы, амплитуды, частоты, фазы или тока от расстояния, а также ВАХ, АЧХ и много другое) даёт в дополнение ко всему мощный инструмент для характеризации образца.

Исследование магнитных свойств
МСМ измерения НЕКСТ позволяет проводить с использованием двухпроходных методик, построчной и покадровой.

Электрические измерения
NEXT позволяет реализовать широкий спектр различных электрических измерений, таких как электростатическая силовая микроскопия с фазовой, частотной и амплитудной модуляций, Кельвин-зондовая силовая микроскопия с фазовой и амплитудной модуляцией, измерение распределения dC/dZ и dC/dV, измерение диэлектрической проницаемости, отображение сопротивления растекания и силовая микроскопия пьезоотклика.

СТМ измерения
Измерения методом сканирующей туннельной микроскопии возможны по методу постоянного тока и постоянной высоты. Кроме того возможно одновременное отображение плотности состояний и работы выхода, а также снятие зависимостей I(V), I(Z), dI/dV и dI/dZ.

Наномеханика
Одной из дополнительных возможностей NEXT является наносклерометрия. NEXT позволяет получать численные значения твёрдости и модуля Юнга с использованием зондов Берковича и стандартных АСМ кантилеверов в зависимости от свойств исследуемого образца.

Инновационная методика HybriD Mode™
HybriD Mode™ (HD-AFM™) – инновационная АСМ методика, которая с помощью контроллера HybriD даёт комплексную информацию об образце за один цикл измерений. В процессе измерений зонд тысячи раз в секунду проходит весь диапазон значимых силовых взаимодействий – от нулевого до прямого контактного взаимодействии с образцом. Это позволяет получать распределение широкого спектра морфологических, механических, химических, электрических, магнитных и других характеристик образца.

Применения
Все основные методики атомно-силовой микроскопии. Отображение рельефа, фазы, измерение электрических характеристик, возможность нанолитографии и многое другое
Сканирующая туннельная микроскопия
Широкий диапазон контролируемых условий для проведения эксперимента — на воздухе, в жидкости, с нагревом образца
Сканер прибора оснащен емкостными низкошумящими датчиками по трём координатам, обеспечивающими возможность метрологических измерений с атомным разрешением