Режимы сканирования:

атомно-силовая микроскопия

сканирующая туннельная микроскопия

сканирующая резистивная микроскопия

дистанционное управление экспериментом

магнитно-силовая микроскопия

нанолитография

электростатическая микроскопия

оптическая микроскопия с передачей данных через интернет


Исследование динамики изменяющейся поверхности

Интерференционный микроскоп "ФемтоСкан Инлайт" служит для точного измерения топографии отражающих объектов, может использоваться для наблюдения плоскостности динамически изменяющейся поверхности (например, грани растущего кристалла), измерения толщины пленок (высоты выступов, образованных краями пленки и подложки). Микроскоп позволяет исследовать образцы на воздухе и в жидких средах. Принцип действия основан на интерференции лучей отраженных от поверхности исследуемого образца с опорным световым потоком одинаковой интенсивности.

Длина волны лазера, мощность лазера 650 нм, 4.5 мВт
Разрешающая способность по горизонтали 1000 нм (500 нм *)
Разрешающая способность по вертикали 160 нм
Максимальное поле обзора 3334x2500 мкм
Размер кадра при максимальном увеличении 800х600 мкм (400х300 мкм*)
Максимальное разрешение изображения 800х600 px
Скорость получения кадров 15 c-1
Габаритные размеры 240х310х350 мм
Вес 5,5 кг