Описание

Глубинность метода: до 15 м

Разрешение: 0,3-0,5 м

Источник: пьезокерамика

Параметрический профилограф позволяет изучать верхнюю часть донных отложений на глубину до первых десятков метров (при благоприятных геологических условиях) на акваториях с глубиной воды до 400 метров. Подходит как для детального изучение донных отложений, так и для картирования объектов на дне