Описание

Оптический эмиссионный спектрометр OBLF QSG 750-II (экспресс-анализатор металлов и сплавов), от 1 до 10 основ (матриц), максимальные аналитические характеристики.
Оптический эмиссионный спектрометр OBLF QSG 750-II идеален для анализа чистых металлов, а также сплавов где требуются минимально возможные пределы обнаружения элементов, максимальная сходимость и низкая погрешность результатов. Спектрометр используется как в крупных производствах (металлургических, авиационных, судостроительных и машиностроении и т.п.), так и в исследовательских институтах, центрах и университетах.

Основное отличие QSG750-II от остальных приборов OBLF заключается в наличии системы регистрации данных, основанной на разработанной OBLF GISS-технологии (Gated Integration of Single Sparks — Стробируемого Интегрирования Единичных Искр). Это позволяет достичь супер-низких пределов обнаружения при анализе примесей в металлах. Спектрометрия единичных искр (или PDA — pulse distributed analysis — анализ распределения импульса) предоставляет необходимую информацию о микроскопическом составе образца, о гомогенности пробы, о количестве растворённого и нерастворённого компонента.

Краткие характеристики спектрометров OBLF
возможность определения ультра-низкого содержания Углерода – ULC (от 0,0002 %масс)
возможность анализа растворимых содержаний элементов и неметаллических включений (без дополнительных каналов), канал Alраств включен стандартно
возможность анализа Кислорода в сталях
высокая сходимость и низкая погрешность результатов анализа;
Погрешность измерений – менее 1%.
Сходимость измерений (кратковременная) – менее 1%.
Герметичная вакуумная система. Минимальное время работы вакуумного насоса. Дискретный режим работы вакуумного насоса.
Оптическая система – горизонтальная по схеме Пашена Рунге. Сферический радиус дифракционной решетки – 750 мм.
Регистраторы сигнала – только фотоэлектронные умножители Hamamatsu на все элементы!
Система термостабилизации оптической системы на уровне 32 Со.
Цифровой строб-импульсный генератор с частотой до 1000 Гц.
Вся регистрирующая и обрабатывающая электроника размещена в вакуумируемой термостабилизированной камере.
Открытый искровой штатив для анализа негабаритных образцов.
Искровой штатив не должен охлаждаться водой.
Неизнашивающаяся верхняя пластина искрового столика из инструментальной стали.
Использование одного искрового столика при анализе материалов на всех основах.
Пневматический прижим образца.
Импульсная продувка аналитического столика аргоном. Отсутствие расхода аргона в режиме ожидания.
Искровой столик / штатив

В спектрометрах фирмы OBLF используется самоочищающийся аналитический столик, самоочищение происходит в начале каждого анализа (коротким импульсом давления аргона). Это дает значительную экономию время на анализ и обслуживание спектрометра.

Продувается аргоном. Оптимизирован для снижения потребления аргона (примерный расход аргона до 4,5 л на 1 анализ, или около 1135 л в сутки при нагрузке 250 проб)
Самоочистка импульсом аргона 3 атм.
Патентованная система для определения низких концентраций углерода
Автоматический пневмоприжим образцов
Автоматическая очистка электрода и поверхности искрового столика
Открытый штатив позволяет быстро менять пробы (в автоматическом и ручном режиме)
Адаптеры для анализа маленьких и проволочных образцов (в ручном режиме)
Цифровой генератор GDS-III
Цифровой источник искрового разряда, построенный на основе GDS технологии (Gated Discharge Source), позволяет проводить точный анализ как следовых компонентов (на уровне <1 ppm), так и высоких концентраций (5–40%) легирующих элементов в сплавах. Он включает цифровой регулируемый синтезатор для создания начальной формы импульса и модуль управления мощностью для создания реального выходного тока, подаваемого на электрод (аналитическая зона).

Контур поджога полностью твердотельный, и эффекты изменения в нем электрических характеристик не влияют на стабильность аналитических результатов. Цифровое управление источником возбуждения позволяет свободно выбирать форму кривой тока, что гарантирует оптимальный подбор уровня тока источника, его продолжительности и необходимый потенциал возбуждения линий спектра. При этом уменьшаются и матричные эффекты, так как энергия возбуждения менее зависима от электрического сопротивления пробы.

Оптимальные параметры возбуждения выбираются для каждого типа металлов — железо, медь, алюминий, никель, цинк, свинец и их сплавов.

Интегрированная мультиискровая система
Полностью выполнен на твердотельных элементах (без вспомогательного разрядника)
Абсолютно не нуждается в обслуживании
Настройки из программы под аналитические задачи: полный диапазон настроек для получения разряда от дугового до искрового
Возможен режим униполярного разряда
Частота искрового разряда программируется от 100 Гц до 1000 Гц
Защищен от короткого замыкания
Использование GDS-III генератора гарантирует наиболее эффективное использование технологии Стробируемого Интегрирования Единичных Импульсов (GISS), также известной как PDA или TRS. Это позволяет достичь супер-низких пределов обнаружения при анализе примесей в металлах. Спектрометрия единичных искр (или PDA – pulse distributed analysis – анализ распределения импульса) предоставляет необходимую информацию о микроскопическом составе образца, о гомогенности пробы, о количестве растворённого и нерастворённого компонента.

QSG750-II имеет возможность анализа неметаллических включений (НВ), в т.ч. по заранее заданным формулам. Концентрация элементов в НВ может отображаться в отчете об анализе. Традиционно, оптические эмиссионные спектрометры используются на металлургических заводах для контроля химического состава металлов и сплавов, с их помощью также можно получать данные о наличии и составе неметаллических включениях. Большое количество европейских металлургических заводов используют данные о неметаллических включениях, полученных при экспресс-анализе на ОЭ спектрометрах OBLF для внутреннего контроля качества и др.

Cписок задач, которые можно решать на ОЭ спектрометрах OBLF очень широк:

контроль Al, Ca, Mg, S содержащих НВ в разных сочетаниях на всех этапах производства стали
контроль TiN содержащих НВ
контроль MgS в чугунах, корректировка расхода делусьфуратора
автоматический контроль Al2O3 в составе НВ (или др. форм НВ) при разливке стали и т.д.
Вакуумная система
Литая, откачиваемая, из легкого сплава
Сниженное время откачки за счет минимальных утечек в двухступенчатом вакуумном насосе
Время работы вакуумного насоса менее 2-5%
Микропроцессор контролирует вакуум и управляет работой вакуумного насоса
Регистрирующий электронный модуль
Вся регистрирующая электроники в спектрометрах фирмы OBLF расположена внутри термостатированной вакуумной камеры. Это позволяет полностью исключить влияние параметров атмосферы и электромагнитных полей на высокочувствительные электронные схемы, благодаря чему увеличивается стабильность результатов.

Стандартный интерфейс (ESI) между спектрометром и управляющим ПК
Имеет микропроцессор для контроля всех функций спектрометра
АЦП с динамическим интегрированием
Модуль истинного интегрирования
Все внешние соединения на разъемах
Схема самодиагностики
Высоковольтный источник питания для ФЭУ: стабилизация лучше, чем 0.2 o/oo
Аналитическое программное обеспечение спектрометра
Концепция OBLF, сочетающая использование патентованных микропроцессоров для эффективного контроля работы отдельных устройств спектрометра и регистрации аналитических сигналов, с центральным управляющим ПК и аналитическим программным обеспечением на базе стандартной платформы Windows™, является основой долговременной стабильной и экономичной эксплуатации спектрометров OBLF.

Программное обеспечение
Работает в операционной среде MS Windows.
Управляется с помощью системы меню, оптимизированного для удобной быстрой работы.
Экранный интерфейс оператора на русском языке.
Автоматический выбор аналитических программ
Вывод результатов измерений в весовых процентах
Усреднение результатов нескольких измерений
Контроль сходимости результатов измерений
Автоматическая и ручная рекалибровка
Распечатка абсолютных и относительных интенсивностей
Контроль системы перед каждым измерением
Графическое отображение интенсивностей, кривых обжига и сканов пиков элементов
Автоматическая нумерация образцов
Определение марки сплава
Динамический контроль анализа во время измерения
Распечатка даты/времени, номера программы, номера образца и т.д.
Измерения корректируются на фон, дрейф и наложение линий
Возможны калибровки по индивидуальным маркам
Модуль расчета по формулам (напр., эмпирический расчёт твёрдости чугуна с пластинчатым графитом, расчёт остатка меди в матрице Cu или никеля в матрице Ni)
Программный модуль для установки аналитических и контрольных параметров
Встроенный регрессионный модуль
Запись результатов анализов в архив и обработка архивов
Распечатка сертификатов анализов
Встроенный модуль статистического контроля процессов
Передача данных в локальную сеть
Простой и интуитивно понятный интерфейс пользователя для рутинных операций анализа, диагностики основных подсистем прибора, рекалибровки и т.д. Несколько защищенных паролем уровней доступа для настройки параметров анализа, ПО и аппаратной части прибора.

Возможность включения управляющего ПК в локальную сеть для обмена данными с технологическими ресурсами.

Использование протокола TCP/IP позволяет гибко конфигурировать управляющий ПК в сети, открывая или ограничивая доступ. Возможность интеграции в Интернет — по желанию пользователя может быть установлена связь сервисного центра с управляющим компьютером через Интернет для удаленного контроля диагностики и управления спектрометром в режиме реального времени.

Оптическая схема Пашена-Рунге 750 мм
Разрешение дифракционной решётки 2400 линий/мм
Обратная дисперсия для 1-го порядка 0,55 нм/мм
Диапазон длин волн 120-800 нм
Частота искрового разряда 1 – 1000 Гц
Чистота аргона 99,998 %
Расход аргона на один прожиг в Fe-матрице макс. 2,4 л
Расход аргона во время ожидания капиллярный
Габариты прибора 1040 х 900 х 1300 мм
Вес нетто 550 кг