Установка предназначена для измерения коэффициентов деления(Кд) и сопротивлений резисторов(R) резисторных микросхем и наборов резисторов и обеспечивает накопление и хранение не менее тысячи результатов измерения, каждое из которых может включать в себя кроме полученных при измерениях значений коэффициентов деления и сопротивлений резисторов следующие введенные оператором сопутствующие параметры:
тип измеряемого изделия
дату и время выполнения измерения
заводской номер измеряемого изделия
вид измерения - "ПОДГОНКА", "ЦЕХ", "ОТК", "ТУ"
технологические стадии замера - "перед ТЦ", "после ТЦ", "после ТЭТ", "Ц.К. в н.у. первич.", "Ц.К. в н.у. герметиз."
температуру воздуха на рабочем месте оператора установки
отметку о соответствии (несоответствии) полученного результата технологическим нормам.

Хранение результатов измерений при выключенной установке обеспечивается без ограничения времени, указанные данные хранятся на жестком диске компьютера.

Предел относительной основной погрешности измерения Кд,% ±0,001
Предел относительной основной погрешности измерения R,% ±0,5