Описание

Использование тестера для входного контроля микросхем позволяет заменить множество специализированных стендов.

Высокая производительность тестера, его аппаратная и программная гибкость делают эффективным его использование в процессе проектирования и серийного производства микросхем.

Количество входов-выходов контролируемого изделия до 64
Диапазон задаваемых и контролируемых напряжений при функциональном контроле от минус 10 до 10 В
Диапазон задаваемых напряжений при статическом контроле от минус 20 до 20 В
Диапазон измеряемых напряжений от минус 30 до 30 В
Диапазон измеряемых токов от 10 нА до 1 А
Количество программируемых источников напряжения для питания объекта контроля 3
Максимальный ток нагрузки программируемых источников питания 1 А (до 10В); 0,2 А (до 30 В)
Основная погрешность при измерении напряжений 0,25%
Основная погрешность при измерении тока 0,5%
Время контроля одного изделия зависит от объема контролируемых параметров и функциональной сложности изделия от десятых долей секунды до десятков секунд
Потребляемая мощность не более 800 Вт